近日，正泰新能ASTRO N7产品以优异表现通过国际权威机构RETC的UVID220测试标准，衰减率低于2%，进一步彰显正泰新能ASTRO N产品优异的抗UVID性能及高可靠性。
今年，RETC在《2024光伏组件指数报告》中针对紫外线诱导衰减（Ultraviolet induced degradation，UVID）问题发出警告以来，组件的UVID性能受到行业内广泛关注。
此次测试中，ASTRO N7组件暴露于UV220（220 kWh/㎡）辐射等级下，相较于常规UV15认证标准，组件受到的紫外辐射强度加强了15倍。在这种极端环境中，ASTRO N7衰减率低于2%，成功通过RETC测试考验。
优异的抗UVID性能来源于正泰新能从电池钝化膜层结构优化到整体组件封装设计的整体解决方案，不放过每一个提升产品可靠性的细节。
在电池膜层结构设计方面，正泰新能采用行业领先创新的薄膜沉积技术，可实现电池钝化膜层均匀性及致密性的精准控制，同时结合LIF工艺，可有效增强膜层紫外线耐受度，从根源上改善UVID问题。封装材料方面，正泰新能选用更高可靠性的胶膜封装方案，进一步降低衰减风险。
不仅如此，严格的质量检测体系更是贯穿于正泰新能组件生产的全流程。从原材料检验到成品抽检，100% AI检测，每一个步骤都遵循最高标准，绝不放过任何一个影响产品可靠性的瑕疵，为产品质量提供更有效的监控手段，持续保障产品的高可靠性。
同时，正泰新能积极推动《晶体硅光伏电池片紫外耐受性能测试方法》《晶体硅光伏电池紫外诱导衰减测试方法》等国际及行业有关UVID的标准制定，分享自身在抗 UVID 技术方面的先进经验，推动光伏行业向更高质量、更可靠的方向发展。
正泰新能始终秉持着以客户为中心的理念，坚持以创新驱动发展，持续优化ASTRO N组件的性能，其发电性能和高可靠性得到客户的高度认可。未来，正泰新能会持续关注产品可靠性，为广大客户缔造持久、高效、绿色能量。