近日，正泰新能ASTRO N系列组件进行加严UVID测试，UV60辐射等级测试下衰减率仅0.7%，优异可靠性保障长效稳定发电！

         在美国权威检测机构RETC最新发布的报告中，紫外线诱导衰减（Ultraviolet induced degradation，UVID）问题被标识为光伏行业面临的主要可靠性挑战之一。RETC针对UVID问题发出警告，UVID由此受到行业内广泛关注。

       UVID指光伏组件在紫外线照射下导致的性能衰减。光伏组件长久暴露在阳光之下，阳光中的紫外线影响封装材料寿命的同时，还会影响电池表面的钝化膜层结构，破坏电池膜层中的Si-H键，从而影响界面钝化效果，导致光伏组件发电性能下降。

        面对UVID，正泰新能“早有准备”。正泰新能n型电池技术设计自一开始就明确较合适的镀膜设备，并持续优化工艺制程参数，通过引入严格的质量管控体系，确保ASTRO N产品在客户端UVID质量无忧。同时，正泰新能从电池钝化膜层结构设计优化入手，采用行业领先的薄膜沉积技术，有效提高膜层致密性，制备厚度更优、精度更高的氧化铝膜层，且基本无绕镀产生，结合最新的LIF工艺，有效增强膜层紫外线耐受度，从根源上改善UV问题。

        为验证正泰新能组件产品的抗UVID性能，正泰新能对ASTRO N系列组件进行UVID加严测试，分别将组件暴露于UV60（60 kWh/㎡）、UV120（120 kWh/㎡）两个辐射等级，相较于常规UV15认证标准，组件受到的紫外辐射强度分别加强了4倍和8倍。

         结果表明，ASTRO N系列组件在UV60辐射等级测试下，衰减率仅有0.7%。在UV120的超严苛条件下，ASTRO N组件依旧保持超低衰减，衰减率仅1.2%。与此同时，正泰新能正在同步将组件送测至专业第三方机构，推进更高UV等级的加严测试，验证组件在更严苛环境下的可靠性能。

        与此同时，为验证组件在更加极端环境中的极致可靠性，正泰新能ASTRO N还进行湿紫外测试，同样取得优异的测试结果，确保组件在东南亚、中东非等高紫外高温高湿环境下长效稳定发电。

         不仅如此， 正泰新能通过不断的技术探索与创新，摸索出一套电池UV监控系统，可快速识别新电池、新工艺对UVID性能的影响，从而为产品质量提供更有效的监控手段，持续保障产品的高可靠性。

        正泰新能通过技术创新和优化设计，显著提升其产品的抗UVID性能，确保电池组件在极端紫外线环境下的稳定运行。作为第一梯队光伏组件供应商，正泰新能致力于产品研发与技术创新，持续加强产品可靠性与性能，为长期价值保驾护航。